可變角度光散射儀（廣角動/靜態光）用于顆粒表征。LS Spectrometer是一種可變多角度光散射儀器（V-MALS）。在LS Spectrometer中，檢測器安裝在可移動的臂上，可以對幾乎任何角度進行精確調整，從而提高測量靈敏度。LS Spectrometer結合專利的調制三維技術（Modulated 3D）（無稀釋測量）和CORENN（改進的聚集檢測），實現了市場上全面的納米顆粒表征。

- 它能測量什么？

• 顆粒大小

• 多分散性

• 顆粒形狀

• 粘度

• 分子量

• 樣品結構

- 可變多角度光散射（V-MALS）

與帶有固定角度傳感器的多角度光散射（MALS）儀器不同，LS Spectrometer的檢測器安裝在樣品池周圍的旋轉臂上，因此可以精確可變地調整到10°至150°之間的任何選定散射角。這有助于顯著提高顆粒大小、聚集檢測、第二維里系數、顆粒形狀或分子量等參數測量的靈敏度。

- 無稀釋樣品測量-調制三維技術（Modulated 3D）

DLS和SLS技術都是基于僅檢測到單次散射光的假設。然而，隨著顆粒濃度的增加，多重散射增加并逐漸主導信號。這在DLS和SLS中都引入了無法檢測的系統誤差。無論重復測量多長時間或多少次，都無法消除或檢測到此錯誤。為了克服這個問題，LS Instruments開發了可選的調制三維技術，可以有效抑制多重散射。調制三維互相關技術使用兩個激光束同時進行兩個散射實驗，雖然單次散射的貢獻是相同的，但在兩個實驗中多重散射的貢獻不同。通過對信號進行互相關，從而抑制了多重散射。三維 LS Spectrometer是一款同時為DLS和SLS提供該技術的儀器。

- 算法用于改進復雜樣品中的聚集和顆粒檢測

CORENN算法是一種新的機器學習算法，用于從DLS測量中提取粒度分布（PSD）。CORENN是一種利用*的信號近似技術和對信號噪聲的獨特理論估計的DLS反演算法，可以得到極其可靠的結果。這種穩健的方法使最終用戶能夠從真實的DLS實驗中獲得真實的粒度分布（PSD）。下圖顯示了4nm和45nm的顆粒混合物的DLS測量結果，只有CORENN算法能夠準確得到這兩個分布。

- 用去偏振動態光散射（Depolarized DLS）表征各向異性粒子

這是一種可以輕松地表征各向異性粒子的技術，并越來越受到科學家的關注：一組兩個偏振器可以通過簡單的DLS測量來表征樣品的旋轉動力學和各向異性粒子的縱橫比。

- 溫度控制

我們強大的溫度循環器使您能夠精確控制樣品中的溫度。與其他循環器相比，它顯著減少了加熱和冷卻時間。它可以通過LsLab軟件進行預編程，以實現不同溫度下的一系列測量。

- 樣品轉角儀

許多適用于光散射的凝膠狀樣品顯示出非遍歷（non-ergodic）行為，從而導致測量誤差。LS Instruments公司開發了一種樣品轉角儀，可以用適當的速度旋轉非遍歷樣品，以獲得正確的結果。此外，樣品轉角儀也可用于使樣品偏離旋轉中心，從而能夠使用方形樣品池，樣品中散射光的光程可以減少到小于200微米，這顯著減少了多重散射。