激光粒度粒形分析儀樣品的準(zhǔn)備和基本測量方法
2019-09-26
激光粒度粒形分析儀樣品的準(zhǔn)備和基本測量方法
激光粒度粒形分析儀是一種新型的粒度測試儀器，主要適用于微米級顆粒的測試，經(jīng)過改進(jìn)也可將測量下限擴(kuò)展到幾十納米，激光粒度儀操作方法如下：
1.激光粒度粒形分析儀樣品準(zhǔn)備
樣品必須能夠準(zhǔn)確反映待測物質(zhì)，確保使用的樣品是具有代表性的，若樣品儲存在容器中，測量前樣品應(yīng)充分混合，確保大小顆粒都被取樣。液體樣品需要選擇合適的泵速確保樣品充分混合，防止大顆粒沉入容器底部而沒有被測量;干法測量結(jié)束后不要在樣品盤上有殘留樣品，盡量保證所有樣品顆粒都被測量。
2.激光粒度粒形分析儀光學(xué)系統(tǒng)的潔凈度
激光散射測量是一種高分辨的光學(xué)檢測手段，樣品池檢測窗是測量區(qū)域的主要組成部件，窗口的灰塵和污染物質(zhì)會散射激光，雜質(zhì)散射光會隨分散樣品的散射光一起被測量，從而影響測量的精度。通過觀測測量背景就能判斷系統(tǒng)的光學(xué)潔凈程度是否達(dá)標(biāo)。
3.激光粒度粒形分析儀基本測量
一個(gè)完整測量過程包括電子背景測量，光學(xué)背景測量和對光，加入樣品，開始粒徑測量，完成測量。進(jìn)入測量過程后，軟件界面的左下方會有對話框指示測量的進(jìn)程。
1)測量背景：顆粒區(qū)的測量數(shù)據(jù)，由于受到設(shè)備電子背景噪音，測試光路中鏡面灰塵，以及分散介質(zhì)中的雜質(zhì)顆粒影響會有一定的偏差。通過“測量背景”能純化粒徑測量，上述的背景信息和數(shù)據(jù)會從樣品測量數(shù)據(jù)中減去以得到的數(shù)據(jù)。
2)加入樣品：在背景測量結(jié)束后，出現(xiàn)加入樣品提示。左方遮光度Obscuration指示欄直觀地表示測量樣品的數(shù)量，遮光度會隨著樣品數(shù)量的增加而逐漸增高。在未加入樣品前，右方的測量數(shù)據(jù)柱狀圖應(yīng)該是隨機(jī)變化，而且柱狀數(shù)據(jù)條的高度一般不超過5。
3)開始測量：當(dāng)遮光度達(dá)到測量要求，停止添加樣品后保持穩(wěn)定(一般意味著樣品顆粒沒有發(fā)生溶解或凝聚，樣品顆粒正常穩(wěn)定分散)，同時(shí)測量數(shù)據(jù)窗口顯示穩(wěn)定的，足夠強(qiáng)度的柱狀數(shù)據(jù)分布，可以按下“Start”鍵開始測量。
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